Ключевые слова: power equipment, dc performance, high voltage process, HTS, Bi2223, cables, quench detection, RF Reflectometry, fault currents, neural networks, measurement setup, modeling
Liu W., Zhang Y., Chen C., Zhang J., Chang J., Chen B., Zhang Z., Ding Y., Cai Y., Hiraoka N., Ishii H., Gu G., Cai Z., Hong X., Fluerasu A., Ku C., Brewe D., Heald S., Ku-Ding T., Irifune T., Mao H.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, thin films, fabrication, nanodoping, nanoscaled effects, substrate single crystal, PLD process, X-ray diffraction, microstructure, lattice parameter, critical temperature, resistivity, temperature dependence, composition, pinning, critical caracteristics, critical current density, self-field effect, fabrication, experimental results
Ключевые слова: HTS, Bi2212, films, doping effect, growth rate, magnetoresistivity, pinning, PLD process, substrate single crystal, nanodoping, nanoscaled effects
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.